shaw露點儀工作原理
1.冷鏡式露點儀
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術,檢測出露層并測量結露時的溫度,直接顯示露點。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。冷鏡式露點儀采用的是直接測量方法,在保證檢露準確、鏡面制冷率和精密測量結露溫度前提下,該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前上zui高精度達到±0.1℃(露點溫度),一般精度可達到±0.5℃以內。
2.電傳感器式露電儀
采用親水性材料或憎水性材料作為介質,構成電容或電阻,在含水份的氣體流經后,介電常數(shù)或電導率發(fā)生相應變化,測出當時的電容值或電阻值,就能知道當時的氣體水份含量。建立在露點單位制上設計的該類傳感器,構成了電傳感器式露點分析儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點溫度),如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING,CERMX II、一般精度可達到±3℃以內。如MICHELL公司EAS-TX-80,EAS-TX-100,EA2-TX-100-HD,MDM300,EASIDEW PRO IS等,還有VAISALA公司的DMT242、DMT143,DMT340系列。
3.電介法露點儀
利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子,從而在電極上積累電荷的特性,設計出建立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。目前上zui高精度達到±1.0℃(露點溫度),一般精度可達到±3℃以內。此種方式對氣體的潔凈要求比較高,可測腐蝕性氣體,德國有一家公司有做,目前國內應用不多。
4.晶體振蕩式露點儀
利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性,可以設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術,目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關產品,但精度較差且成本很高。
5.紅外露點儀
利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性,可以設計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點,主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級,還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術,對于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線監(jiān)測具有重要的意義。如美國米科公司的都挺好。
6.半導體傳感器露點儀
每個水分子都具有其自然振動頻率,當它進入半導體晶格的空隙時,就和受到充電激勵的晶格產生共振,其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子,從而使晶格的導電率增大,阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
